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发一个修改版本,扫频仪部分增强

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电容C

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发表于 2017-4-22 14:03:24 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 rakong 于 2017-4-22 14:34 编辑

修改原因
用原作者的扫频仪功能测试一个陶瓷晶片的频率,发现完全看不到谐振点
问题原因,原来的频幅测试的范围太大,而且步数很少,导致谐振点不是恰好在测试频率点的时候完全不可见
修改项目
1、整合扫频仪和频幅分析两个功能,都按照频幅分析操作即可,做为扫频使用的时候直接忽略扫描结果就行
2、增加了扫描的点数选择,最大800点,可以得到很细腻的频幅曲线
3、增加了测试时间和进度条,毕竟这个测试条件是很慢的,有个提示好一点
4、扫频个频幅都可以按照线性和指数两种方式进行扫描
5、拉大了曲线的显示区间,可能在低分辨率的显示器上会出现超出屏幕的情况,没有测试过。
6、显示曲线增加了有效值,如果是待测系统存在检波等功能的话,峰峰值就无法反应真实的结果了,这个功能还没有测试过
先发一个图 wsj.jpg
这个图是一个45k压电陶瓷振子的频幅相应
测试方法输出和输入的地线直接连接,输出信号端串联100欧电阻到压电片,压电片负端接地,输入端信号连接到压电片和电阻的连接点
从测试结果来看这个压电器件的特性还是很陡的,谐振频率范围不到2k,按照原来的方式完全看不到曲线的
同样的方法,可以直接测量lc串联,并联谐振的频率和特性
如果测试滤波器的话,可以输出直接到滤波器的输入端,滤波器的输出到示波器的输入端就可以
最后把修改过的程序发出来,只有一个执行文件,其他的去覆盖老版本应该就好了 OSCV2.3.3.wsj.rar (64.55 KB, 下载次数: 3162)
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 楼主| 发表于 2017-4-22 14:41:00 | 显示全部楼层
再发一张75k的晶片曲线
75k.JPG
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 楼主| 发表于 2017-4-22 14:56:32 | 显示全部楼层
rakong 发表于 2017-4-22 14:41
再发一张75k的晶片曲线

再加一个lc并联谐振的
L681C332.jpg
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发表于 2017-4-22 20:45:18 | 显示全部楼层
不错不错,支持,哈哈
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发表于 2017-7-31 15:26:34 | 显示全部楼层
厉害厉害,佩服佩服。网友写的该功能确实比我的原版软件功能加强很多很多。看来当初决定开放二次开发接口是明智决定呀。
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